【科创定位找余行】688766普冉股份专利技术保护趋势

创定位找余行】688766普冉股份专利技术保护趋势

2021年8月23日上市，688766普冉股份，普冉半导体(上海)股份有限公司目前市值71.79亿元，2022年三季度营业收入7.637亿元，净利润1.382亿元，研究经费1.1亿元。所属行业半导体-数字芯片设计，最赚钱业务芯片收入(利润比例100.00%)。

主营产品集成电路产品的研发设计和销售。

1）发明专利位线选通号驱动电路  申请号CN202211032820.X  申请日2022年8月26日 技术效果在不明显降低电平翻转电路翻转速度的前提下，消除电平翻转电路电压翻转时PMOS和NMOS之间同时导通存在的瞬时串通电流，达到电平翻转过程中低翻转电流的目的，降低了位线选通号驱动电路的功耗，提升了位线选通号驱动电路的性能。

2）实用专利一种车载HUD显示组件  申请号CN202221736901.3  申请日2022年7月7日 技术效果本实用新型可以实现同一HUD设备同时支持倒车雷达和车载导航息源的显示，提高用户驾驶过程中的体验感。

3）发明专利一种动态卡控的芯片差分单元测试方法及装置  申请号CN202210784901.9  申请日2022年7月5日 技术效果本发明通过设置档位进行动态卡控，以及设置真值表进行自动校验，实现对芯片差分单元的测试，防止过杀良品芯片差分单元。

4）发明专利一种芯片失效的筛选方法及装置  申请号CN202210767812.3  申请日2022年7月1日 技术效果本发明通过加剧早期失效芯片损伤状态后，在常温状态下测量芯片的功能、电特性，筛除功能异常或电特性异常的芯片，经过此方法严格卡控的良品芯片可大大降低芯片封装后出货的失效率，保证产品品质。

5）实用专利一种基于光发射显微镜的芯片测试板  申请号CN202221650455.4  申请日2022年6月29日 技术效果通过上位机控制待测芯片执行相应的操作，为光发射显微镜搭建测试环境，随时通过光发射显微镜对待测芯片进行测试，提高集成电路芯片测试的便捷性，大幅降低芯片测试的成本。

6）发明专利非易失存储芯片数据保持能力异常测试方法  申请号CN202210476117.1  申请日2022年4月29日 技术效果该非易失存储芯片数据保持能力异常测试方法，既可以有效卡控出数据保持有问题、存在可靠性风险的存储芯片，也能够减少测试中不必要的良率损失。

7）发明专利可编程频率发生器及其校准方法  申请号CN202210328245.1  申请日2022年3月30日 技术效果通过更少位数及总宽长比的校准电路对可编程频率发生器输出的频率进行校准，从而在保证可编程频率发生器输出的频率的范围及精度的同时，使可编程频率发生器有较小芯片面积，节约校准可编程频率发生器成本。本发明还公开了一种可编程频率发生器的校准方法。

8）发明专利Flash存储器测试电路及测试方法  申请号CN202210237487.X  申请日2022年3月11日 技术效果该Flash存储器测试电路，能借助计数器或定时器高效、轻松、准确地测量频率号，定位存储器缺陷，在将存储器的故障测试简洁化、低成本化、高效化的同时，保证了其高灵敏度。本发明还公开了一种Flash存储器测试方法。

9）发明专利运算放大器及带隙基准源电路  申请号CN202210145361.X  申请日2022年2月17日 技术效果本发明公开了一种采用所述运算放大器的带隙基准源电路，能提供任意值的零温度系数电压，可以节省面积。

10）发明专利金属层间通孔形成方法  申请号CN202210057474.4  申请日2022年1月19日 技术效果孔相对底层金属即使有移位也不会偏移出相应的位线的底层金属外面，不会因通孔移位造成的某一边的金属间距更小，避免相邻通孔之间出现金属短接风险，增加了底层金属的通孔区域的工艺窗口，增加了次工艺的窗口边距，从而提升了金属层间通孔形成工艺的健康度。  

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